多触点可变尖测试探头 XSAP-4 系列,是测试探针设计中的独特开发,这些可变尖测试探头,顾名思义,带有一个弹簧加载 Multilam 设计,可更改,通过尖头工具的方法(例如另一个测试探头尖端,能将测试探针锁定在那个特定的类别之内),以适合相关的测试类别。 这些特定可变尖端 Multilam 测试探头可在 1000 V 额定电压的 II 和 IV 类与 32A 的 II 类以及小于 1A 的 III 和 IV 类之间切换,类别显示在测试探头主体内的窗口中,适合与带坚固绝缘套管装有弹簧的 4 mm 直径插头一起使用。
额定电压 1000V II 类和 IV 类
适合与 4mm 直径带坚固套管装有弹簧的插头一起使用。