CSD17307Q5A,827-4833,Texas Instruments NexFET 系列 Si N沟道 MOSFET CSD17307Q5A, 73 A, Vds=30 V, 8引脚 SON封装 ,Texas Instruments
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CSD17307Q5A
Texas Instruments NexFET 系列 Si N沟道 MOSFET CSD17307Q5A, 73 A, Vds=30 V, 8引脚 SON封装
制造商零件编号:
CSD17307Q5A
制造商:
Texas Instruments
Texas Instruments
库存编号:
827-4833
声明:图片仅供参考,请以实物为准!
CSD17307Q5A产品详细信息
N 通道 NexFET? 功率 MOSFET,Texas Instruments
CSD17307Q5A产品技术参数
安装类型
表面贴装
长度
5.8mm
尺寸
5.8 x 5 x 1.1mm
典型关断延迟时间
9.3 ns
典型接通延迟时间
4.6 ns
典型输入电容值@Vds
535 pF @ 15 V
典型栅极电荷@Vgs
4 nC @ 4.5 V
封装类型
SON
高度
1.1mm
晶体管材料
Si
晶体管配置
单
宽度
5mm
类别
功率 MOSFET
每片芯片元件数目
1
通道类型
N
通道模式
增强
系列
NexFET
引脚数目
8
最大功率耗散
3 W
最大连续漏极电流
73 A
最大漏源电压
30 V
最大漏源电阻值
17.3 mΩ
最大栅阈值电压
1.8V
最大栅源电压
+10/-8 V
最低工作温度
-55 °C
最高工作温度
+150 °C
最小栅阈值电压
0.9V
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安装类型 表面贴装
Texas Instruments 安装类型 表面贴装
MOSFET 晶体管 安装类型 表面贴装
Texas Instruments MOSFET 晶体管 安装类型 表面贴装
长度 5.8mm
Texas Instruments 长度 5.8mm
MOSFET 晶体管 长度 5.8mm
Texas Instruments MOSFET 晶体管 长度 5.8mm
尺寸 5.8 x 5 x 1.1mm
Texas Instruments 尺寸 5.8 x 5 x 1.1mm
MOSFET 晶体管 尺寸 5.8 x 5 x 1.1mm
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典型关断延迟时间 9.3 ns
Texas Instruments 典型关断延迟时间 9.3 ns
MOSFET 晶体管 典型关断延迟时间 9.3 ns
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典型接通延迟时间 4.6 ns
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MOSFET 晶体管 典型接通延迟时间 4.6 ns
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典型输入电容值@Vds 535 pF @ 15 V
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MOSFET 晶体管 典型输入电容值@Vds 535 pF @ 15 V
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典型栅极电荷@Vgs 4 nC @ 4.5 V
Texas Instruments 典型栅极电荷@Vgs 4 nC @ 4.5 V
MOSFET 晶体管 典型栅极电荷@Vgs 4 nC @ 4.5 V
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封装类型 SON
Texas Instruments 封装类型 SON
MOSFET 晶体管 封装类型 SON
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高度 1.1mm
Texas Instruments 高度 1.1mm
MOSFET 晶体管 高度 1.1mm
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晶体管材料 Si
Texas Instruments 晶体管材料 Si
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晶体管配置 单
Texas Instruments 晶体管配置 单
MOSFET 晶体管 晶体管配置 单
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宽度 5mm
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系列 NexFET
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最大漏源电阻值 17.3 mΩ
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