CSD16401Q5,827-4741,Texas Instruments NexFET 系列 N沟道 Si MOSFET CSD16401Q5, 100 A, Vds=25 V, 8引脚 SON封装 ,Texas Instruments
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CSD16401Q5
Texas Instruments NexFET 系列 N沟道 Si MOSFET CSD16401Q5, 100 A, Vds=25 V, 8引脚 SON封装
制造商零件编号:
CSD16401Q5
制造商:
Texas Instruments
Texas Instruments
库存编号:
827-4741
声明:图片仅供参考,请以实物为准!
CSD16401Q5产品详细信息
N 通道 NexFET? 功率 MOSFET,Texas Instruments
CSD16401Q5产品技术参数
安装类型
表面贴装
长度
6.1mm
尺寸
6.1 x 5.1 x 1.05mm
典型关断延迟时间
20 ns
典型接通延迟时间
16.6 ns
典型输入电容值@Vds
3150 pF @ 12.5 V
典型栅极电荷@Vgs
21 nC @ 4.5 V
封装类型
SON
高度
1.05mm
晶体管材料
Si
晶体管配置
单
宽度
5.1mm
类别
功率 MOSFET
每片芯片元件数目
1
通道类型
N
通道模式
增强
系列
NexFET
引脚数目
8
最大功率耗散
3.1 W
最大连续漏极电流
100 A
最大漏源电压
25 V
最大漏源电阻值
2.3 mΩ
最大栅阈值电压
1.9V
最大栅源电压
-12 → 16 V
最低工作温度
-55 °C
最高工作温度
+150 °C
最小栅阈值电压
1.2V
关键词
CSD16401Q5相关搜索
安装类型 表面贴装
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MOSFET 晶体管 安装类型 表面贴装
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长度 6.1mm
Texas Instruments 长度 6.1mm
MOSFET 晶体管 长度 6.1mm
Texas Instruments MOSFET 晶体管 长度 6.1mm
尺寸 6.1 x 5.1 x 1.05mm
Texas Instruments 尺寸 6.1 x 5.1 x 1.05mm
MOSFET 晶体管 尺寸 6.1 x 5.1 x 1.05mm
Texas Instruments MOSFET 晶体管 尺寸 6.1 x 5.1 x 1.05mm
典型关断延迟时间 20 ns
Texas Instruments 典型关断延迟时间 20 ns
MOSFET 晶体管 典型关断延迟时间 20 ns
Texas Instruments MOSFET 晶体管 典型关断延迟时间 20 ns
典型接通延迟时间 16.6 ns
Texas Instruments 典型接通延迟时间 16.6 ns
MOSFET 晶体管 典型接通延迟时间 16.6 ns
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典型输入电容值@Vds 3150 pF @ 12.5 V
Texas Instruments 典型输入电容值@Vds 3150 pF @ 12.5 V
MOSFET 晶体管 典型输入电容值@Vds 3150 pF @ 12.5 V
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典型栅极电荷@Vgs 21 nC @ 4.5 V
Texas Instruments 典型栅极电荷@Vgs 21 nC @ 4.5 V
MOSFET 晶体管 典型栅极电荷@Vgs 21 nC @ 4.5 V
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封装类型 SON
Texas Instruments 封装类型 SON
MOSFET 晶体管 封装类型 SON
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高度 1.05mm
Texas Instruments 高度 1.05mm
MOSFET 晶体管 高度 1.05mm
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晶体管材料 Si
Texas Instruments 晶体管材料 Si
MOSFET 晶体管 晶体管材料 Si
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晶体管配置 单
Texas Instruments 晶体管配置 单
MOSFET 晶体管 晶体管配置 单
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宽度 5.1mm
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MOSFET 晶体管 宽度 5.1mm
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类别 功率 MOSFET
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每片芯片元件数目 1
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通道类型 N
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系列 NexFET
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引脚数目 8
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最大功率耗散 3.1 W
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MOSFET 晶体管 最大功率耗散 3.1 W
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最大连续漏极电流 100 A
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最高工作温度 +150 °C
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最小栅阈值电压 1.2V
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MOSFET 晶体管 最小栅阈值电压 1.2V
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