CD74HCT688M96,662-7370,Texas Instruments CD74HCT688M96 8-Bit 反相 相等比较器, 4.5 → 5.5 V电源, 20引脚 SOIC封装 ,Texas Instruments
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CD74HCT688M96
Texas Instruments CD74HCT688M96 8-Bit 反相 相等比较器, 4.5 → 5.5 V电源, 20引脚 SOIC封装
制造商零件编号:
CD74HCT688M96
制造商:
Texas Instruments
Texas Instruments
库存编号:
662-7370
声明:图片仅供参考,请以实物为准!
CD74HCT688M96产品技术参数
安装类型
表面贴装
长度
12.8mm
尺寸
12.8 x 7.52 x 2.35mm
传输延迟测试条件
50pF
封装类型
SOIC
高度
2.35mm
极性
反相
宽度
7.52mm
逻辑功能
相等比较器
逻辑系列
HCT
输出功能
A=B
位元数目
8
引脚数目
20
最长传播延迟时间@最长CL
34 ns @ 4.5 V
最大低电平输出电流
4mA
最大高电平输出电流
-4mA
最大工作电源电压
5.5 V
最低工作温度
-55 °C
最高工作温度
+125 °C
最小工作电源电压
4.5 V
关键词
CD74HCT688M96配套附件
产品描述 / 参考图片
制造商零件编号 / 制造商 / 库存编号
操作
Panasonic ERA 系列 0.125W 10kΩ 金属膜SMD 电阻器 ERA6ARW103V, ±0.05%, ±10ppm/°C, 0805 封装
制造商零件编号:
ERA6ARW103V
品牌:
Panasonic
库存编号:
662-1252
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安装类型 表面贴装
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逻辑比较器 长度 12.8mm
Texas Instruments 逻辑比较器 长度 12.8mm
尺寸 12.8 x 7.52 x 2.35mm
Texas Instruments 尺寸 12.8 x 7.52 x 2.35mm
逻辑比较器 尺寸 12.8 x 7.52 x 2.35mm
Texas Instruments 逻辑比较器 尺寸 12.8 x 7.52 x 2.35mm
传输延迟测试条件 50pF
Texas Instruments 传输延迟测试条件 50pF
逻辑比较器 传输延迟测试条件 50pF
Texas Instruments 逻辑比较器 传输延迟测试条件 50pF
封装类型 SOIC
Texas Instruments 封装类型 SOIC
逻辑比较器 封装类型 SOIC
Texas Instruments 逻辑比较器 封装类型 SOIC
高度 2.35mm
Texas Instruments 高度 2.35mm
逻辑比较器 高度 2.35mm
Texas Instruments 逻辑比较器 高度 2.35mm
极性 反相
Texas Instruments 极性 反相
逻辑比较器 极性 反相
Texas Instruments 逻辑比较器 极性 反相
宽度 7.52mm
Texas Instruments 宽度 7.52mm
逻辑比较器 宽度 7.52mm
Texas Instruments 逻辑比较器 宽度 7.52mm
逻辑功能 相等比较器
Texas Instruments 逻辑功能 相等比较器
逻辑比较器 逻辑功能 相等比较器
Texas Instruments 逻辑比较器 逻辑功能 相等比较器
逻辑系列 HCT
Texas Instruments 逻辑系列 HCT
逻辑比较器 逻辑系列 HCT
Texas Instruments 逻辑比较器 逻辑系列 HCT
输出功能 A=B
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逻辑比较器 输出功能 A=B
Texas Instruments 逻辑比较器 输出功能 A=B
位元数目 8
Texas Instruments 位元数目 8
逻辑比较器 位元数目 8
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引脚数目 20
Texas Instruments 引脚数目 20
逻辑比较器 引脚数目 20
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最长传播延迟时间@最长CL 34 ns @ 4.5 V
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逻辑比较器 最长传播延迟时间@最长CL 34 ns @ 4.5 V
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最大工作电源电压 5.5 V
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最低工作温度 -55 °C
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逻辑比较器 最低工作温度 -55 °C
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最高工作温度 +125 °C
Texas Instruments 最高工作温度 +125 °C
逻辑比较器 最高工作温度 +125 °C
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最小工作电源电压 4.5 V
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逻辑比较器 最小工作电源电压 4.5 V
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